研究报告

稻瘟病抗性位点Pik功能标记的开发及其在育种上的应用  

郑祥正*
福建农业职业技术学院, 福州, 350119
作者    通讯作者
《分子植物育种》印刷版, 2020 年, 第 18卷, 第 23 篇   
收稿日期: 2019年08月08日    接受日期: 2019年08月14日    发表日期: 2020年09月14日
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摘 要

水稻 Pik 位点含有至少 个抗病基因,它们都包含在该位点功能区域中。因此,有效区分出功能区域是鉴定该基因座功能基因的首要条件。本研究通过对水稻抗稻瘟病 Pik 基因座上已克隆的功能基因,包括PikPi-kpPi-khPi-1Pi-k和 Pi-ks 及非功能基因序列的相互对比,鉴定到 Pik 基因座特异的核苷酸差异,开发了基于 PCR 技术的 Pik 基因座的插入/缺失(insert-deletion, InDel)标记,能有效地将 Pik 上功能基因与其它非功能基因的基因座区分开。利用 Pik 基因座的分离群体进行标记选择与接种鉴定,结果表明 Pik-InDel 标记能精确的选择出 Pik 功能基因座。用 Pik-InDel 标记对 20 份重要水稻不育系进行分子检测,该标记能准确地将抗性基因座与其它非抗病基因座区分开来,这为筛选水稻稻瘟病抗性种质资源,以及抗性标记辅助抗病育种提供了便利。 

关键词
水稻;抗性基因;分子标记;分子标记辅助选择;Pik 位点
《分子植物育种》印刷版
• 第 18 卷
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